NANOTRAC FLEX 納米粒度分析儀采用全新的動態(tài)光背散射技術(shù)（DLS），引入由于顆粒在懸浮體系中的布朗運(yùn)動而產(chǎn)生頻率變化的能譜概念，快速準(zhǔn)確地得到被測體系的納米粒度分布，外置固定式光學(xué)探頭滿足任何應(yīng)用需求。

真正的180° 動態(tài)光背散射測量技術(shù)

探頭設(shè)計可以實(shí)現(xiàn)只需要一滴液體滴在探頭的頂部進(jìn)行測量（圖1）， 這樣測量只需最小的樣品量2μl。探頭同時也適合1.5mL Eppendorf 管（圖2）。對于NANOTRAC FLEX 來說，每個容器都可以用作測量池（圖3），不需要任何的比色皿。NANOTRAC FLEX 的探頭設(shè)計可以實(shí)現(xiàn)在一個反應(yīng)過程中離線或在線監(jiān)測顆粒的粒徑變化。在反應(yīng)中，分散相通常處于是流動或攪拌中， 分散相的運(yùn)動將會掩蓋布朗運(yùn)動，在這種情況下用DLS測量幾乎不可能的，為了測量攪拌中或流動的液體，Microtrac研發(fā)了一款FlowGuard探頭（圖4），F(xiàn)lowGuard探頭是在原來的探頭周圍加了PTFE 外殼, 它可以防止測量表面受到湍流的影響，外殼上孔口能夠確保樣品不停的交換，在探頭的界面處同時減緩攪拌的運(yùn)動速度。這種設(shè)計確保測得懸浮液粒度分布的準(zhǔn)確性和代表性。NANOTRAC  FLEX探頭在測量任何類型樣品時都非常容易和快速的清洗。